Скачать ГОСТ 8.171-75 Государственная система обеспечения единства измерений. Меры поверхностной плотности для радиоизотопных толщиномеров. Общие технические условия

Дата актуализации: 01.01.2018

ГОСТ 8.171-75

Государственная система обеспечения единства измерений. Меры поверхностной плотности для радиоизотопных толщиномеров. Общие технические условия

Обозначение:	ГОСТ 8.171-75
Статус:	действующий
Название рус.:	Государственная система обеспечения единства измерений. Меры поверхностной плотности для радиоизотопных толщиномеров. Общие технические условия
Название англ.:	State system of ensuring the uniformity of measurements. Actual measures of the surface density for radiation thickness gauges. General specifications
Дата актуализации текста:	06.04.2015
Дата актуализации описания:	01.01.2018
Дата издания:	10.11.1975
Дата введения:	01.01.1977
Дата последнего изменения:	21.12.2017
Область применения:	Настоящий стандарт распространяется на меры поверхностной плотности, предназначенные для воспроизведения единицы поверхностной плотности листовых и ленточных материалов в диапазоне от 2 до 30000 г/м кв. на площади от 5 до 600 см кв
Список изменений:	№1 от 01.03.1981 (рег. 31.10.1980) «Срок действия продлен» №2 от 01.07.1987 (рег. 29.12.1986) «Срок действия продлен» №3 от 01.01.1992 (рег. 26.06.1991) «Срок действия продлен»