| Обозначение: |   ГОСТ Р 8.697-2010 |
| Статус: | действующий |
| Название рус.: | Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа |
| Название англ.: | State system for ensuring the uniformity of measurements. Interpenar spacings in crystals. Method for measurement by means of a transmission electron microscope |
| Дата актуализации текста: | 06.04.2015 |
| Дата актуализации описания: | 01.01.2018 |
| Дата издания: | 19.04.2010 |
| Дата введения: | 31.08.2010 |
| Дата последнего изменения: | 21.12.2017 |
| Область применения: | Настоящий стандарт устанавливает методику выполнения измерений межплоскостных расстояний в кристаллах, кристаллических тонких пленках и покрытиях, нанокристаллах и иных образцах толщиной не более 200 нм с помощью просвечивающего электронного микроскопа.
Настоящий стандарт применяют для определения межплоскостных расстояний в кристаллах в диапазоне линейных размеров от 0,08 до 10,00 нм в режиме дифракции и в диапазоне линейных размеров от 0,2 до 10,0 нм в режиме изображения |
|
|
