Интернет - Библиотека
Нормативная правовая документация

Скачать ГОСТ 8.593-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки

Дата актуализации: 01.01.2018

ГОСТ 8.593-2009

Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки

Обозначение: ГОСТ 8.593-2009
Статус:действующий
Название рус.:Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки
Название англ.:State system for ensuring the uniformity of measurements. Atomic-force scanning probe microscopes. Method for verification
Дата актуализации текста:06.04.2015
Дата актуализации описания:01.01.2018
Дата издания:10.06.2010
Дата введения:01.11.2010
Дата последнего изменения:21.12.2017
Область применения:Настоящий стандарт распространяется на сканирующие зондовые атомно-силовые микроскопы, применяемые для измерений линейных размеров в диапазоне от 10 (в степени минус девять) до 10 (в степени минус шесть) м, и устанавливает методику их первичной и периодических поверок с использованием рельефных мер по ГОСТ 8.591 и ГОСТ 8.592
ГОСТ 8.593-2009ГОСТ 8.593-2009ГОСТ 8.593-2009ГОСТ 8.593-2009ГОСТ 8.593-2009ГОСТ 8.593-2009ГОСТ 8.593-2009ГОСТ 8.593-2009ГОСТ 8.593-2009ГОСТ 8.593-2009ГОСТ 8.593-2009ГОСТ 8.593-2009