Скачать ГОСТ Р 57394-2017 Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказностьДата актуализации: 01.01.2018
|
| Обозначение: |  ГОСТ Р 57394-2017 |
| Обозначение англ: | GOST R 57394-2017 |
| Статус: | принят |
| Название рус.: | Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность |
| Название англ.: | Integrated circuits and semiconductor devices. Methods of accelerated tests for non-failure operation |
| Дата добавления в базу: | 01.01.2018 |
| Дата актуализации: | 01.01.2018 |
| Дата введения: | 27.02.2017 |
| Дата окончания срока действия: | 01.01.2018 |
| Область применения: | Стандарт устанавливает методы ускоренных испытаний на безотказность полупроводниковых интегральных микросхем и полупроводниковых приборов, предусматривающие форсирование режимов эксплуатации. |
| Оглавление: | 1 Область применения 2 Нормативные ссылки 3 Термины, определения и сокращения 4 Общие положения 5 Подготовка к введению ускоренных испытаний на безотказность 6 Определение режима ускоренных кратковременных испытаний на безотказность 7 Определение режима и продолжительности ускоренных длительных испытаний на безотказность Приложение А (справочное) Модели коэффициентов ускорения для различных механизмов отказов Приложение Б (рекомендуемое) Определение коэффициента ускорения отказов изделий с учетом нескольких механизмов отказов Приложение В (рекомендуемое) Определение констант ускорения n и альфа в моделях коэффициента ускорения оттока и напряжения Приложение Г (рекомендуемое) Определение значения энергии активации на основе параллельных испытаний выборок в различных режимах Приложение Д (рекомендуемое) Определение значения энергии активации по накопленным данным Приложение Е (рекомендуемое) Определение значения энергии активации по результатам испытаний со ступенчато-возрастающей нагрузкой Приложение Ж (рекомендуемое) Определение значения энергии активации по результатам электротермотренировки при ступенчато-возрастающей нагрузке Приложение И (рекомендуемое) Форма обобщения результатов испытаний при определении режима ускоренных кратковременных испытаний на безотказность Приложение К (рекомендуемое) Форма программы работ по определению режимов ускоренных испытаний Приложение Л (обязательное) Методы определения границ области допустимого форсирования Приложение М (рекомендуемое) Форма решения об утверждении режимов ускоренных кратковременных и длительных испытаний на безотказность и введения этих испытаний в систему испытаний на безотказность Приложение Н (рекомендуемое) Форма программы и методики ускоренных испытаний на безотказность Приложение П (справочное) Примеры расчета режимов и продолжительности ускоренных испытаний на безотказность Библиография |
| Разработан: | АО РНИИ Электронстандарт АО ЦКБ Дейтон ФГУП МНИИРИП АО Росэлектронника |
| Утверждён: | 27.02.2017 Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии (74-ст) |
| Издан: | Стандартинформ (2017 г. ) |
| Нормативные ссылки: |
|
ГОСТ 16504-81 «Система государственных испытаний продукции. Испытания и контроль качества продукции. Основные термины и определения»
